Detector de defectos por ULTRASONIDO Phased Array

GEKKO

Descripción

El sistema portátil de pruebas de matriz en fase GEKKO cuenta con hasta 64 canales de PA paralelos y 4 conectores convencionales adicionales. Su interfaz de usuario intuitiva permite una rápida parametrización del sistema, así como exámenes individuales y grupales (máximo 8). Las combinaciones de aplicaciones de PA entre sí o con procesos convencionales (p. ej., TOFD) se pueden definir de forma rápida y flexible.

Uso y aplicaciones

El GEKKO fue el primer sistema de PA capaz de realizar pruebas en tiempo real mediante el Método de Enfoque Total (TFM). Con el paso de los años, esta técnica se ha perfeccionado y optimizado, por lo que hoy en día es posible realizar incluso escaneos rápidos con escáneres xy, y con trayectorias de sonido largas, las pruebas se pueden realizar con la máxima sensibilidad.

Datos importantes

Creación de parámetros de prueba con soporte de CIVA y, por lo tanto, cálculo muy rápido de leyes de retardo incluso para problemas de prueba complejos (matrices, componentes curvos)
Método de Enfoque Total (TFM) en tiempo real
Representaciones de resultados extensas (escaneos A, B, C, D, vista superior, vista lateral, representación 3D, curvas dinámicas, etc.)
Diafonía extremadamente baja entre canales adyacentes (atenuación de diafonía > 50 dB), por lo que se obtiene una buena relación señal-ruido en el escaneo A y en los escaneos B y C de alto contraste.
3 entradas de codificador
Ajuste de sensibilidad dependiente del tiempo de ejecución y del ángulo, DGS